出处：按学科分类—社会科学总论 河北人民出版社《新技术革命辞典》第117页（259字）
利用有关的干涉现象测量物体的变形、位移、振动、形状等的技术。在物体的变形、位移的计量中，常用的基本方法为两次曝光法和实时干涉法，前者是在一个记录片上重叠，记录物体变形或位移前后的两个全息图，然后利用其再现光的干涉确定变形或位移的分布情况。后者是利用变形或位移前记录的全息图的再现光与变形或位移后的物光的干涉现象。按照类似的原理形成了计测物体振动情况的时间平均法，闪光照明法，计测物体形状的两波长等高线表示法，折射率变化等高线表示法，被测物体与标准物体形状差别显示法等。